電子部品向け治具

電子部品を効率よく
検査することを可能に

電子部品向け治具とは、電子部品単体の特性を検査するための治具です。

電子部品にも様々な種類があり、スマートフォンやPCの頭脳とも言えるCPU、人間の記憶に該当するメモリ、ディスクリート部品と呼ばれる抵抗、コンデンサ、外部機器とのインターフェイスとなるコネクタなどがあります。一つの製品にはこれらの部品が数百～数千個と含まれています。

それらの電子部品が全て良品でなければ最終製品の機能に著しい障害を起こす可能性がありますが、その性能を担保するためにも電子部品単位での検査は重要です。

アイ・エム・アイは多種多様な形状、特性を持つ電子部品に合わせた検査治具を提供いたします。

ピンコンタクト対応

ディスクリート、パッケージ、モジュール問わずピンコンタクト可能。

ニーズに合わせた
治具を製造

狭ピッチ、大電流、非磁性などデバイスの特長に合わせた治具を提供。

量産にも対応可能

開発用のマニュアル治具、量産用のピンブロック単体など設備に合わせた商品を提供。

治具名	特長
ディスクリート部品用	MLCCを始めとするディスクリート部品の検査治具を取り扱っております。チップ部品では0201と行った極小サイズ、1つの電極に2本プローブを当てるケルビン測定などに対応できます。
コネクタ検査用	様々な形状のコネクタにコンタクトするピン治具を取り扱っております。BtoBコネクタのような狭小ピッチの製品、コネクタが基板に実装された状態でのピンによるコンタクトなど幅広く対応出来ます。
パッケージ用	BGA、CSP、QFP、QFN、SOP、SONなど各種半導体パッケージ用の検査治具（ICソケット）を取り扱っております。